分析单碳粉颗粒的电荷分布
- 与Riken和Tohoku大学的联合研究 -

东京，2014年4月1日-Ricoh Co.，Ltd。和一个协作研究团队成功评估了绝缘颗粒的电荷分布，即多功能打印机的模型碳粉颗粒（MFPS）。通过这项工作获得的知识有可能使MFP打印提高图像质量甚至更长的时间。

可视化墨粉颗粒周围的静电电位分布，包括碳粉和载体颗粒之间的面积，这是改善图像质量和电摄影MFPS系统的长期挑战。每个单个碳粉颗粒和载体颗粒的静电相互作用被认为会极大地影响打印量。因此，在绝缘颗粒中存储充电机制的知识是必不可少的。到目前为止，由于缺乏正确评估单个粒子的电荷的合适方法，因此对颗粒的电荷进行了常规分析。

在这项工作中，开发了一种电子全息方法，以可视化单独绝缘带电颗粒的静电潜力。图案化的遮罩板的组合可以将样品免受入射电子和截面电子全息图的影响，以减少参考波的扰动，使我们能够更精确地分析墨粉颗粒的电荷分布。

这项研究得到了日本科学促进学会（JSP）的赠款的支持，该研究由科学技术政策理事会发起的“世界领先的科学技术创新研发资金（第一计划）”CSTP）。这项工作是根据教育，文化，体育，科学和技术部（MEXT）的“网络联合材料与设备研究中心”合作研究计划进行的。

这项研究的结果发表在《美国科学杂志》的在线问题上（日期为3月31日）。应用物理信“也在2014财年，我们将参加Riken和Tohoku University的合作研究中心。这项工作有望在科学技术的角度支持我们的主要业务和相关的新业务。

参考
Toshiaki Tanigaki，Kuniaki Sato，Zentaro Akase，Shinji Aizawa，Hyun Suon Park，Tsuyoshi Matsuda，Tsuyoshi Matsuda，Yasukazu Murakami，Daisuke Shindo，Shindo和Hiromitsu Kawase和Hiromitsu Kawase，“与销售电力的电源相关的电源相关”应用物理信，2014，doi：10.1063/1.4869830